直流探针
| 针尖材质 | 高纯度固体钨针 |
| 针尖半径 | 1/2/5/10 微米针尖半径 |
| 针尖长度 | 针长 1.26 英寸，约 3cm |
| 包装数量 | 5根/盒装 |
开尔文探针
开尔文探针规格和利用特点：
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探针做热补充处置，预防变温尝试时探针产生位移脱离样品接触点
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双SSMC接头，同轴Kelvin开尔文设计
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两组探针可实现四线法衔接，进行IV/CV/Pulse IV丈量
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可代替针尖，常用针尖半径有1.5 / 5.0 / 10.0 μm
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直流幼信号丈量电流精度<10fA
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LCR测试<10fF
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时序信号齐全性测试
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脉冲引发/丈量，脉冲幼信号丈量功夫精度10ns
开尔文同轴探针工作道理示意图：
上图红色方框内为本次所注明的探针夹具，下图为放大后的连线使用
详解图：
开尔文同轴探针与泰克4200A-SCS半导体参数测试仪衔接实测的漏电流数据图如下：
射频高阻有源同轴探针
多用处高速无源同轴探针
微波无源同轴探针
波导同轴探针
微波&直流混合探针卡
微波&射频校准片
探测光纤
探测光纤规格：
真空陶瓷探针
真空陶瓷探针规格和利用特点：
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探针为陶瓷衬底的同轴设计，分为内层芯体和表层Guard；げ 。
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探针的Guard；げ阌胩秸胩诓康耐岬缋孪叩谋聿闫帘蜗呦谓，同轴电缆再与探针台表部的三同轴接口衔接，实现从探针台表部接口到探针之间电信号的全程Guard；ば源 。
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共同半导体分析仪或高精度源表测试微幼漏电流幼于100 fA 。
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探针热沉到样品台，减幼探针和样品台的温差 。
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针尖直径有5.0μm / 10.0μm 。
陶瓷探针与泰克4200A-SCS半导体参数测试仪衔接实测的漏电流数据图如下：
