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半导体参数丈量系统

  • 探针台

  • 凹凸温卡盘

  • IV仪表

  • CV仪表

  • 测试软件

探针台

  • 1.1. 8英寸-80℃ to +200℃凹凸温密关腔体                                                               

  • 1.2.卡盘X/Y轴平面无间隙气浮急剧移动,移动速度可调,单手节造,急剧移动行程:8英寸X8英寸,肆意地位自动锁止,同时X/Y轴平面无间隙微调移动行程:8英寸X8英寸,精度:1um

  • 1.3.卡盘Z轴无间隙起落移动,行程:0~10mm,微调精度:1um

  • 1.4.探针平台急剧起落行程 0/0.3/3.0mm并带自动锁定职能

  • 1.5.显微镜底座在 X-Y轴平面内微调移动,行程:2英寸X2英寸,精度1微米

  • 1.6.显微镜Z轴气浮急剧起落,行程0~50mm,起落速度可调

  • 1.7.高分辨显微观察系统,光学分辨率0.5um,共同2000万像素高清工业相机和液晶显示器,带拍照、录像和尺寸丈量软件

  • 1.8.直流、脉冲、高压、大电流、高频探针均可配置。



凹凸温卡盘

  • 2.1. 8英寸凹凸温卡盘,同轴结构,背栅电极测试,可兼容Banana、BNC、TRIAX、SMA、HV TRIAX等测试接口

  • 2.2. 温度领域:-80℃ to  +200℃

  • 2.3. 温度分辨率 : 0.1℃

  • 2.4. 温度不变性: ±0.1℃

  • 2.5. 控温方式 : 全自动控温软件,一键节造温控器、传感器和液氮流量



IV仪表

  • 3.1. 提供宽动态领域:200mV~200V, 1μA~1A, 20W

  • 3.2. 最幼电流分辨率:0.1fA

  • 3.3. 最幼电压分辨率:1uV

  • 3.4. 四象限工作

  • 3.5. 数字I/O提供急剧分选与机械手衔接GPIB,RS-232



CV仪表

  • 4.1. 丈量频率DC,4Hz~8MHz(10 mHz~100 Hz步进)

  • 4.2. 丈量模式:单次/陆续丈量

  • 4.3. 根基精度Z: 0.05 % rdg. θ: 0.03°

  • 4.4 最幼电容分辨率:0.1fF

  • 4.5. DC偏压-200V~+200V



测试软件

  • 5.1. 人机交互界面多职能软件;

  • 5.2. 具备数据图形化分析职能,具备输出通路、测试通路、输出类型、扫描模式、电压/电流参数、扫描步长、输出延长、循环次数、接线方式设置职能;

  • 5.3. 可实时测得IV曲线、VI曲线、IT曲线、VT曲线、RT曲线、PT曲线、RV曲线、FET个性曲线、BJT个性曲线、C-F、C-V、C-T实时曲线;

  • 5.4.滤波设置,对丈量值取均匀;

  • 5.5. 手动设置输出和丈量的量程领域,也可设置自动量程;

  • 5.6. 设置丈量积分功夫,节造丈量速度和精确度,积分功夫可设置为0.001s~25s;

  • 5.7. 通讯接口支持GPIB、RS-232、USB、LAN;

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