半导体参数曲线测试系统
支持 IV/VI 测试，合用于三电极CV、LSV等电化学测试；
具备 V-t/I-t/R-t/P-t 实时监测，可用于传感器与电化学过程分析；
提供 IVRP-t 缓存测试，支持微秒级高速采样；
集成 太阳能电池 I-V 测试，自动推算开路电压、短路电流、填充因子与转换效能；支持多种信号输出：方波、脉冲、阶梯、正弦及自界说波形，合用于忆阻器、晶体管等器件测试。
可丈量电容、电赣注阻抗、电导率、介电常数、Q因子等互换参数；
支吃斓率响应分析（C-F）与偏压扫描测试（C-V）；
建设高精度LCR丈量职能，根基精度达0.05%，频率领域DC～8 MHz。
