Our Solution
解决规划
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半导体参数丈量为客户提供从晶元到系统的专业半导体测试规划，并提供搭配其他测试设备。针对高功率半导体资料或半导体器件，搭配高功率晶体管参数曲线图示仪详情 -
光电耦合丈量探针台选型指南：探针台体尺寸，显微观察倍率，探针座和夹具，屏蔽和隔振。光电集成规划：光源种类，光电结合方式...详情 -
真空低温丈量开循环/关循环造冷和温度领域可 ；低倍体视/高倍金相显微观察可 ；可配1~6个微定位波纹臂，测试夹拥有直流、开尔文...详情 -
变温环境丈量凹凸温探针台选型指南，低温造冷道理，HTM系列密关凹凸温探针台...详情 -
射频/微波丈量配套仪表：矢量网络分析仪、频谱仪、信号产生器、示波器、锁相放大器、数字源表、半导体参数分析仪等。详情 -
高压/大电流丈量高压/大电流丈量用于对各类电器产品、电气元件、绝缘资料等进行划定电压下的绝缘强度试验，以查核产品的绝缘水平...详情