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探针卡

半导体造作中用于晶圆测试（Wafer Test） 的关键接口设备 ，重要在芯片封装前对晶圆上的裸片（Die）进行电机能测试 ，其主题作用是通过精密探针衔接自动测试设备（ATE）和晶圆 ，实现对芯片职能的筛选与质量验证 ，从而提升良率、降低成本。
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